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NDT領(lǐng)域，主要有工業(yè)CT檢測(cè)和X射線(xiàn)檢測(cè)兩種檢測(cè)方法，它們都是用X射線(xiàn)來(lái)檢測(cè)物體內(nèi)部的，那么，X射線(xiàn)是如何產(chǎn)生的？
根據(jù)科學(xué)原理，X射線(xiàn)是一種粒子流，它是由原子中的電子在能量差別很大的兩個(gè)能級(jí)間的躍遷而形成的，它是波長(zhǎng)介于紫外線(xiàn)和γ射線(xiàn)之間的電磁輻射。由于德國(guó)物理學(xué)家W.K.倫琴于1895年發(fā)現(xiàn)，因此也被稱(chēng)為倫琴射線(xiàn)。
倫琴射線(xiàn)X波長(zhǎng)非常短，大約在0.01~100埃之間，其穿透能力非常強(qiáng)，能夠透過(guò)許多不透明可見(jiàn)光的物質(zhì)，如墨紙、木材等。這是一種肉眼看不到的射線(xiàn)，它能使許多固體物質(zhì)產(chǎn)生可見(jiàn)熒光，使照相底片感光和空氣離子化等效果。因此，工程師們利用X射線(xiàn)這一特性，開(kāi)發(fā)出了各種X射線(xiàn)探測(cè)設(shè)備。
20世紀(jì)中葉以來(lái)，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，X射線(xiàn)系統(tǒng)又有了新的發(fā)展方向——CT，所謂的CT，也就是三維X射線(xiàn)掃描，就是用非破壞性X射線(xiàn)透視技術(shù)，將被測(cè)物體的單個(gè)軸面的射線(xiàn)穿透，即三維X射線(xiàn)掃描，用非破壞性的X射線(xiàn)透視技術(shù)，將待測(cè)物體的實(shí)體圖像進(jìn)行計(jì)算機(jī)運(yùn)算重建?？梢?jiàn)CT能顯示物體的三維結(jié)構(gòu)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，相對(duì)于X射線(xiàn)的二維方案，已經(jīng)有了質(zhì)的飛躍，從技術(shù)上講：CT斷層掃描技術(shù)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損評(píng)估的**方法，工業(yè)CT則采用斷層成像技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的無(wú)損可視化、裝配缺陷和材料分析。該方法不被周?chē)卣髡趽?，可以直接得到目?biāo)特征的空間位置、形狀和大小信息。
X射線(xiàn)檢測(cè)方案能直觀地顯示出工件內(nèi)缺陷的大小和形狀，從而便于判斷缺陷的性質(zhì)，射線(xiàn)底片作為檢驗(yàn)的原始記錄，進(jìn)行多方研究，長(zhǎng)期保存，對(duì)薄壁件無(wú)損檢測(cè)具有較高的靈敏度。對(duì)于體形缺陷敏感、平面分布真實(shí)、尺寸準(zhǔn)確的缺陷影象。在壓力容器焊接質(zhì)量檢測(cè)中，對(duì)表面光潔度沒(méi)有嚴(yán)格要求，晶粒度對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響很小，可用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測(cè)，因此在壓力容器焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中被廣泛應(yīng)用。
工業(yè)CT方案也有其明顯的優(yōu)點(diǎn)：
第一：工業(yè)CT技術(shù)獲得的被測(cè)物體斷層圖像分辨率較高，對(duì)工業(yè)CT的檢測(cè)則不受被測(cè)物體幾何結(jié)構(gòu)的限制；
第二：工業(yè)CT不僅能顯示被檢測(cè)樣品的二維圖像，而且還能對(duì)工件上的二維斷層圖像進(jìn)行三維立體重建，可直觀地分辨出被測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、材料、切面處是否有缺陷，以及工件內(nèi)部缺陷的形狀、大小、位置等，并且工件內(nèi)部的目標(biāo)信息清晰，不會(huì)被其他干擾物遮蔽；
第三：工業(yè)CT技術(shù)具有較高的空間分辨率和密度分辨率，適應(yīng)性較廣，可用于不同灰度級(jí)別的檢測(cè)；
第四：工業(yè)CT圖像易于識(shí)別和理解，檢測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確等。
對(duì)于工業(yè)CT的發(fā)展，還有一個(gè)明顯的發(fā)展方向，那就是目前對(duì)工業(yè)CT切片圖像中的缺陷進(jìn)行檢測(cè)和識(shí)別的主要方法還是由專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行的，這種識(shí)別方法主要依賴(lài)于檢測(cè)人員的經(jīng)驗(yàn)，檢測(cè)結(jié)果常常受到檢測(cè)人員的主觀判斷干擾，結(jié)果不夠客觀。
伴隨著大數(shù)據(jù)、云計(jì)算，尤其是量子時(shí)代的到來(lái)，許多企業(yè)已經(jīng)開(kāi)始研究缺陷的智能檢測(cè)方法，排除人為意識(shí)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的干擾，以大量的實(shí)際數(shù)據(jù)作為缺陷識(shí)別的依靠，提高效率的同時(shí)保證檢測(cè)質(zhì)量，AI智能識(shí)別和分辨樣品信息將成為工業(yè)CT檢測(cè)領(lǐng)域的一個(gè)發(fā)展方向。
